低壓差線性穩(wěn)壓器(LDO)設計與仿真
0.電源管理芯片
大到汽車,智能燈具,智能電視,小到平板,智能手機,藍牙手環(huán)等等,雖然它們實現的功能各有不同,但這些電子設備都有一個共同點,它們都需要能為其供電的電源管理芯片。電源之于電子器件,就好像飛機發(fā)動機之于飛機一樣,一個高穩(wěn)定性,高精度,高靈敏度的電源管理芯片,決定著電子設備能否高性能的實現其功能,以及使用壽命的長短,因此研究電源管理芯片很有意義。開關穩(wěn)壓器和線性穩(wěn)壓器是使用頻率最高的兩種電源供給器件。
開關穩(wěn)壓器具有可升壓、可降壓、較寬的電壓輸出范圍以及效率高等特點,但同時具有模塊龐雜,外圍器件多,紋波抑制比較低,輸出噪聲大等缺點,常見的開關穩(wěn)壓器有DC-DC、charge pump等;
線性穩(wěn)壓器有傳統(tǒng)線性穩(wěn)壓器和低壓差(LDO)線性穩(wěn)壓器。LDO 線性穩(wěn)壓器有電路模塊小、瞬態(tài)響應快、功耗低、噪聲小、電源抑制比高、工作性能穩(wěn)定等突出的特點,缺點為效率較低。
1.LDO 的基本結構和基本原理
1.1 LDO的基本結構
常見的LDO結構包括帶隙基準源、誤差放大器、功率管和電阻反饋電路四個基本模塊。LDO通過檢測來自電阻反饋網絡的輸出電壓,并與帶隙基準提供的恒定輸入電壓進行比對,再由誤差放大器將比對后的壓差信號放大,傳輸到功率管進行線性調整,使得輸出電壓與輸入參考電壓維持相應的比值不變,產生穩(wěn)定的電壓輸出。
帶隙基準電路(BandGap) 為LDO 電路提供不受溫度和負載大小變化影響的穩(wěn)定偏置電壓。帶隙基準電路的設計將直接影響LDO的輸出噪聲,輸出電壓,電源電壓抑制比等等,因此帶隙基準電路的設計是尤為重要的。
誤差放大器(EA) 是LDO 的關鍵功能實現模塊。誤差放大器的增益,直接作用到LDO 的輸出電壓精度、負載調整率、線性調整率和 PSRR 上,誤差放大器的帶寬與LDO 的瞬時響應能力緊密關聯,當誤差放大器的帶寬不夠大時,LDO 系統(tǒng)很難保證有較好的瞬態(tài)響應能力。因此,高性能寬的誤差放大器對 LDO 系統(tǒng)來說是不可或缺的,是 LDO 整體功能實現的重要保障。
功率管為負載電路提供大的輸出電流,因此功率管通常都是由大尺寸的晶體管構成。PMOS 器件有著比 NMOS 器件更低的噪聲參數,以及更低的壓差值,因此在LDO的設計中,一般采用PMOS作為功率管。
電阻反饋網絡一般由兩個電阻串聯構成,電阻間的分壓確定了 LDO 輸出電壓的數值。
1.2 LDO的基本原理
誤差放大器、功率管和電阻反饋網絡構成負反饋環(huán)路,當 LDO 的輸出電壓增大時,反饋電阻檢測到輸出信號的改變,使反饋電壓也跟著增大,增大的電壓信號傳輸到誤差放大器的同相端,與誤差放大器的基準電壓輸入端進行比較,得到一個電壓差,再由誤差放大器放大該電壓差,進而提高功率管柵端的電壓,達到降低輸出電流的目的,于是 LDO 的輸出電壓降低,抑制了輸出電壓上升的趨勢。當 LDO 的輸出電壓降低時,負反饋環(huán)路將使功率管柵壓降低,增大輸出電流,LDO輸出電壓將升高,抑制了其下降的趨勢。當環(huán)路增益很大時,系統(tǒng)處于深度負反饋,輸出電壓Vout可寫為:
2. LDO主要性能參數
2.1 壓差
LDO 的壓差是系統(tǒng)處于穩(wěn)態(tài)時,輸入與輸出電壓之間最小的差值。當輸入電壓很小時,電路處于截止狀態(tài),此時輸出電壓接近為零。當輸入電壓升高到某一值時,輸出電壓開始跟隨輸入電壓逐步升高,并在達到一定值后保持不變,此時 LDO 進入穩(wěn)壓工作狀態(tài)。具體工作過程見下圖 :
2.2 靜態(tài)電流與效率
靜態(tài)電流 Iq是LDO穩(wěn)定工作時,輸入電流與輸出電流的差值。靜態(tài)電流包括誤差放大器、基準電壓源、電阻反饋網絡的偏置電流和功率晶體管的驅動電流,即除外部負載外系統(tǒng)內部消耗的總電流。LDO的效率定義為:
即負載功率除以總功率。
2.3 負載調整率
負載調整率(LDR)是衡量在負載電流發(fā)生改變的情形下,輸出電壓維持在特定值附近的能力,表達式為:
其中,Ron為LDO的開環(huán)輸出電阻,βAOL為LDO的環(huán)路增益,因此可以通過提高 LDO 的直流環(huán)路增益來降低 LDO 的負載調整率。
2.4 線性調整率
線性調整率(LNR)是在供電電源電壓發(fā)生改變的情況下,系統(tǒng)輸出電壓對該變化的抑制能力,表達式為:
其中△VOUT變化范圍一般為±10%電源電壓,△VIN分別為其對應的基準電壓差值。
2.5 電源抑制比
**電源抑制(PSR)可以理解為交流小信號下,電壓輸出基準的線性調整率。**對于下圖LDO結構,畫出小信號模型,列節(jié)點基爾霍夫電流方程求解可得:
其中,RDSP為功率管輸出電阻,LG為環(huán)路增益{ Agmpβ[rds∥(R1+R2)∥ZLOAD] },A為運放增益,β為反饋系數,gmp為功率管跨導。
2.6 噪聲
LDO系統(tǒng)噪聲來源見下圖:
其中,帶隙基準電路所產生的噪聲占據了 LDO 總輸出噪聲的很大一部分,可以使用具有低截止頻率的低通濾波器進行噪聲隔離;電壓反饋網絡的電阻熱噪聲(4kTR)可以通過降低反饋網絡的阻值來減小,但同時反饋網絡阻值的減小將會導致靜態(tài)功耗變大,這需要我們在兩者間進行折衷處理;誤差放大器的噪聲可以通過低噪聲設計來減小;由于功率管尺寸通常很大,因此其閃爍噪聲(K/(COXWLf))可以忽略,其溝道熱噪聲沒有經誤差放大器放大,因此功率管噪聲忽略不計。LDO 線性穩(wěn)壓器輸出噪聲的典型值為 100~ 500μVrms。
2.7 瞬態(tài)特性
LDO 的瞬態(tài)特性一般有兩個,一個是輸出電壓因為輸入電壓的瞬態(tài)變化而產生的變化,稱為線性瞬態(tài)響應。另一個是電流載荷在短時間內明顯改變時產生的瞬態(tài)響應,被稱為負載瞬態(tài)響應。
當負載電流由輕載向重載突變時,由于LDO 的帶寬以及環(huán)路的限制,輸出電壓并不能對負載的變化作出及時的應答,因此在負載電流突然增大時,電阻反饋網絡不能立刻拉低功率管的柵端電壓,導致功率管無法輸出足夠的電流,此時負載電容 CL 將釋放儲存的電荷來彌補不足的輸出電流,在負載電容 CL 放電時間,輸出電壓將出現一個大的下降,我們稱這個下降電壓為下沖(Undershoot )。
相似的,當負載電流從重載向輕載突變時,受LDO環(huán)路帶寬的影響,系統(tǒng)并不能對負載的變化作出及時的應答,功率管將會繼續(xù)保持大的輸出電流一段時間,此時的電流大于負載所需要的電流,多出來的電流對負載電容 CL 充電,輸出電壓將產生一個大的電壓上升,我們稱這個上升電壓為過沖(Overshoot )。
具體過程見下圖:
瞬態(tài)響應的設計目標是盡可能小的下沖電壓(Undershoot Voltage)、過沖電壓(Overshoot Voltage),和更短的恢復時間(????1+????2和????3+????4)。
3. LDO的設計與分析
3.1 LDO結構設計
LDO電路結構見圖3.1
圖3.1 LDO電路
圖3.2 BG電路(BG電路的設計見上篇文章)
3.2 LDO電路描述
M1~M8以及M10晶體管構成兩級誤差放大器,為LDO提供更大的環(huán)路增益。M0、M10,M3、M5和M3、M6構成電流鏡,其中M0輸入500nA直流電流偏置,為LDO提供恒定電流。M9為功率管,為了給負載提供大的輸出電流,M9的尺寸設計的很大。使用密勒電容Cm對LDO環(huán)路進行頻率補償。帶隙基準連接在兩級誤差放大器的負端,輸出800mV低溫度系數電壓,調整R1、R2阻值大小得到1.5V LDO輸出電壓。
3.3 LDO小信號分析
LDO電路小信號模型見下圖:
根據小信號模型,列節(jié)點電流方程解得:
GBW≈βgm1/Cm,主極點P1≈1/gm6gmpRo2Ro4Cm。環(huán)路有兩個零點,分別為:
空載時,右半面零點Z2遠大于左半平面零點Z1,并且隨著負載電流增大,gmp增大,使得Z2進一步增大,因此后續(xù)分析我們忽略右零點,只考慮左零點對環(huán)路的影響。我們將1+b2s+b3s2化為標準形式:
空載時,阻尼因子ζ<1,極點為左半平面的兩個共軛復根。當負載電流開始增大時,ζ隨之增大,左半平面兩個非主極點將變?yōu)閷嵏?。當負載電流很大時我們有:
3.4 器件參數
該LDO晶體管尺寸、電阻阻值以及電容值見下表:
M0 | 1um/1um (W/L) | M1 | 2um/500nm |
---|---|---|---|
M2 | 2um/500nm | M3 | 1um/2um |
M4 | 1um/2um | M5 | 4um/2um |
M6 | 4um/2um | M7 | 1um/2um |
M8 | 1um/2um | M9 | 10um*100/200nm |
M10 | 4um/1um | ||
R1 | 160kΩ | R2 | 140kΩ |
Cm | 1.5pF | CL | 200pF |
4. LDO的仿真
4.1 DC仿真
直流特性
空載時,LDO DC仿真結果如下:
4x、8x表示對偏置電流放大4倍和8倍,功率管靜態(tài)電流為5uA,LDO輸出電壓為1.502V??蛰d時M0~M8以及M10均處于飽和區(qū),由于M9尺寸很大,為了流過5uA的靜態(tài)電流,M9將處于亞閾值區(qū)。
另外,對負載電流在0~50mA范圍內進行參數掃描,輸出功率管M9的跨導和region曲線:
(仿真方法為:對ILOAD進行參數掃描-tool-Results browser-calculator-dcOpinfo-選中M9-選擇gm和region-右鍵Append)
可見,隨著負載電流由0增大到5mA時,功率管M9由亞閾值區(qū)進入飽和區(qū),跨導增大。隨著負載電流繼續(xù)增大到5mA時,M9進入飽和區(qū),跨導隨著過驅動電壓增大而增大。在25mA負載電流時,M9進入了線性區(qū),此時跨導開始下降,這是因為由于過驅動電壓增大,受縱向電場影響,MOS管實際載流子遷移率開始下降:
壓差
在0~1.8V范圍內掃描電源電壓:
仿真得出壓差約為90mV
線性調增率
空載時,在1.62V~1.98V范圍內掃描電源電壓:
仿真得出空載時線性調整率為0.472%
重載時(50mA),在1.62V~1.98V范圍內掃描電源電壓:
仿真得出重載時線性調整率為2.178%。
負載調整率
在(0,50mA)范圍內掃描負載電流:
仿真得出負載調整率為0.504%
4.2 stb仿真
環(huán)路穩(wěn)定性
在主反饋環(huán)路添加iprobe,見下圖:
空載時環(huán)路穩(wěn)定性仿真結果如下:
在(0,50mA)對ILOAD進行參數掃描,輸出環(huán)路增益曲線,見下圖:
對于上圖我們作以下分析:
1.直流增益為什么先增大后減小
在3.3節(jié)小信號中我們推導出直流增益表達式為:βgm1gm6gmpRo2Ro4Ro,對gmpRo進行參數掃描:
仿真發(fā)現gmpRo在輕載時并沒有增加,那么直流增益為什么會有近20dB的提升呢,分析發(fā)現,由于M9在空載時工作于亞閾值區(qū),這導致M9柵極電位很高,使得M7工作于線性區(qū),RO4很小。畫出M7與M6輸出電阻:
可見Ro4在負載電流從0增大到5mA時,電阻增大了近十倍,直流增益增大近20dB。當負載電流繼續(xù)增大時,由于gmpRo≈2/λ(VGS-VTH),過驅動電壓增大將導致gmpRo減小,因此直流增益開始減小。
2.零極點是怎么移動的
在3.3節(jié)小信號分析可知,隨著負載電流增大,主極點由于Ro2的增大而左移,在Ro2值穩(wěn)定后,將隨著gmpRo減小而右移。左零點為gm3/Cm,位于GBW附近,同時阻尼因子將隨著負載電流增大而增大,當阻尼因子大于1時,左半平面兩個共軛極點將變?yōu)閷崢O點,直流增益尖峰開始減小,P2、P3極點分離程度增大,此時環(huán)路次極點位于gm6/Cgdp附近,P3極點隨著負載電流增大右移。
3.相位裕度PM和GBW為什么先增大后減小
輕載時,由于主極點左移,共軛極點向實極點轉化,次極點右移,相位裕度將增大很多,同時直流增益有近20dB的提升,因此GBW也將增大。當電流負載電流繼續(xù)增大時,主極點右移,而次極點位置近乎不變,主極點向次極點靠近,相位裕度減小,同時直流增益將持續(xù)下降,GBW也將減小。
4.3 ac仿真
電源抑制(PSR)
空載和滿載PSR仿真結果如下:
4.4 tran仿真
電流跳變
負載電源跳變用ipwl電源模擬,設置ILOAD從0跳變到50mA,跳變時間為1us。
(使用鍵盤A、B鍵可選取曲線上的兩點)
仿真得,undershoot為273mV, overshoot為56mV。
4.5 noise仿真
文章來源:http://www.zghlxwxcb.cn/news/detail-778960.html
正如2.17節(jié)噪聲分析那樣,帶隙基準噪聲占LDO噪聲絕大部分。輸出噪聲曲線如下:
對輸出噪聲曲線在1~100kHz范圍內積分并開根號得,輸出噪聲為文章來源地址http://www.zghlxwxcb.cn/news/detail-778960.html
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