LCR 數(shù)字電橋又稱 LCR 測(cè)量?jī)x、LCR 電橋、數(shù)字電橋等等。
使用方法 ：
以HIOKI為例說明（參考說明書）：
顯示參數(shù)選擇：
需要根據(jù)被測(cè)元件選擇。
手冊(cè)上的說明如下：
（1）以兩個(gè)不同的測(cè)試頻率下?lián)p耗因子的變化性來決定。若頻率升高而損耗增加，則應(yīng)選用串聯(lián)等效電路。若頻率升高而損耗減小，則應(yīng)選用并聯(lián)等效電路。對(duì)于電感來說，情況正好與電容相反。實(shí)際中，器件的 D 不可能與頻率完全成正比關(guān)系，其可能有并聯(lián)成分，也可能有串聯(lián)成分，應(yīng)看何種成分占主導(dǎo)。
（2）根據(jù)元件的最終使用情況來判定。如用于信號(hào)耦合電容，則最好選擇串聯(lián)方式，旁路或并聯(lián)諧振則使用并聯(lián)
等效電路。習(xí)慣上說低阻抗元件用串聯(lián)，從數(shù)值上說阻抗小于 100 歐姆一定用串聯(lián)，大于 10 千歐用并聯(lián)，(100 歐姆-10 千歐)根據(jù)實(shí)際情況選擇。
補(bǔ)充：
什么是損耗 D,品質(zhì)因數(shù) Q?
答： D、Q 兩者互為倒數(shù)，其計(jì)算方法為被測(cè)器件的有功功率 PR(電阻器耗能)與無功功率 PC(電容器儲(chǔ)能)或 PL(電感器儲(chǔ)能)的比值。對(duì)串聯(lián)和并聯(lián)等效電路使用下式計(jì)算：Q=Rs/|Xs|,D=|Xp|/Rp，D 和 Q 的值與等效方式無關(guān)。
怎樣選擇測(cè)試速度?
一般來說,測(cè)試速度是以犧牲測(cè)試精度為代價(jià)的：速度越快,精度越差，讀數(shù)穩(wěn)定性差，有效位數(shù)變少。如果要測(cè)試精度,一般選擇慢速，要考慮測(cè)試速度和測(cè)試精度就選擇中速。
模式選擇
說明書上給的例子中：
電容測(cè)量用CV模式，設(shè)定恒定電壓電平。
電感測(cè)量用CC模式。
文章來源：http://www.zghlxwxcb.cn/news/detail-630729.html
開路補(bǔ)償和短路補(bǔ)償
由于測(cè)量線的形狀改變對(duì)測(cè)量值影響很大，因此測(cè)試之前需要做這2個(gè)補(bǔ)償。
此外需要注意，這兩個(gè)補(bǔ)償都需要做，不能只做一個(gè)。文章來源地址http://www.zghlxwxcb.cn/news/detail-630729.html
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