国产 无码 综合区,色欲AV无码国产永久播放,无码天堂亚洲国产AV,国产日韩欧美女同一区二区

人臉檢測(cè):經(jīng)典的VJ人臉檢測(cè)器(類(lèi)Harr特征,積分圖加速法,級(jí)聯(lián)的Adaboost強(qiáng)分類(lèi)器)

這篇具有很好參考價(jià)值的文章主要介紹了人臉檢測(cè):經(jīng)典的VJ人臉檢測(cè)器(類(lèi)Harr特征,積分圖加速法,級(jí)聯(lián)的Adaboost強(qiáng)分類(lèi)器)。希望對(duì)大家有所幫助。如果存在錯(cuò)誤或未考慮完全的地方,請(qǐng)大家不吝賜教,您也可以點(diǎn)擊"舉報(bào)違法"按鈕提交疑問(wèn)。

著名的VJ人臉檢測(cè)算法就是一種基于Adaboost分類(lèi)器的方法。該檢測(cè)器由Paul Viola和Michael Jones在2001年的 Robust Real-Time Face Detection 提出。在當(dāng)年的硬件條件下VJ算法可以達(dá)到每秒15幀圖像的處理速度,是人臉檢測(cè)技術(shù)發(fā)展的一個(gè)里程碑。雖然性能跟現(xiàn)在基于深度學(xué)習(xí)的方法沒(méi)法比,但肯定也是值得去拜讀的。

VJ算法利用積分圖加速法快速提取圖像的類(lèi)Harr特征,然后使用Adaboost算法訓(xùn)練得到若干個(gè)強(qiáng)分類(lèi)器,組成級(jí)聯(lián)結(jié)構(gòu),對(duì)人臉和背景進(jìn)行最后的分類(lèi)。論文的三大貢獻(xiàn)分別為:積分圖加速法提取類(lèi)Harr特征,基于Adaboost的學(xué)習(xí)算法,使用級(jí)聯(lián)的方式組合強(qiáng)分類(lèi)器。我們分開(kāi)敘述。

1. 積分圖加速法提取類(lèi)Harr特征

人臉檢測(cè):經(jīng)典的VJ人臉檢測(cè)器(類(lèi)Harr特征,積分圖加速法,級(jí)聯(lián)的Adaboost強(qiáng)分類(lèi)器)


人臉檢測(cè):經(jīng)典的VJ人臉檢測(cè)器(類(lèi)Harr特征,積分圖加速法,級(jí)聯(lián)的Adaboost強(qiáng)分類(lèi)器)

VJ人臉檢測(cè)器中所用到的類(lèi)Harr特征

類(lèi)Harr特征屬于一種卷積運(yùn)算模板,可以用其捕捉圖像的邊緣、變化等信息。而人臉的五官有著和輪廓有著獨(dú)特的亮度和邊緣信息,很符合類(lèi)Harr特征的特點(diǎn)。在眾多的類(lèi)Harr特征模板中,Viola和Jones選取了四個(gè)可以提取邊緣特征,線(xiàn)性特征以及對(duì)角線(xiàn)特征的模板。
類(lèi)Harr特征值由以下操作得到:將類(lèi)Harr特征模板放在圖像上之后,用白色區(qū)域所覆蓋的圖像像素和減去黑色區(qū)域所覆蓋圖像中的像素和,在線(xiàn)性特征模板中,會(huì)對(duì)黑色區(qū)域像素之和乘以2,這是為了抵消黑白區(qū)域面積不相等所帶來(lái)的影響。通過(guò)改變類(lèi)Haar特征模板的位置及大小,可以在檢測(cè)窗內(nèi)窮舉出上萬(wàn)個(gè)特征**,因此計(jì)算量巨大。

人臉檢測(cè):經(jīng)典的VJ人臉檢測(cè)器(類(lèi)Harr特征,積分圖加速法,級(jí)聯(lián)的Adaboost強(qiáng)分類(lèi)器)

積分圖加速法

??由類(lèi)Harr特征值的計(jì)算過(guò)程可以看出,其中涉及了大量的像素求和運(yùn)算,為了更快地提取圖像的類(lèi)Harr特征,作者使用了一種稱(chēng)為積分圖(Integral Image)的方法。假設(shè)有一張圖像,其坐標(biāo)(x, y)處的積分圖可以定義為:
I ( x , y ) = ∑ x ′ ≤ x ∑ y ′ ≤ y f ( x ′ , y ′ ) I(x, y) = \sum_{x^{\prime} \leq x} \sum_{y^{\prime} \leq y} f\left(x^{\prime}, y^{\prime}\right) I(x,y)=xx?yy?f(x,y)

在提取類(lèi)Harr特征之前,首先計(jì)算出整幅圖像的積分圖。那么在提取特征時(shí),圖中矩形ABCD的像素和可以利用積分圖表示如下:
S a b c d = I ( D ) ? I ( B ) ? I ( C ) + I ( A ) S_{a b c d}=I(D)-I(B)-I(C)+I(A) Sabcd?=I(D)?I(B)?I(C)+I(A)

積分圖加速法大大降低了運(yùn)算量。

2. Adaboost學(xué)習(xí)算法

提到了大量類(lèi)Harr特征值之后,就該使用Adaboost算法做分類(lèi)訓(xùn)練了
關(guān)于Adaboost的好文推薦:詳解AdaBoost原理, 這里我只記錄關(guān)鍵點(diǎn)吧。
Boosting是一種將弱分類(lèi)器組合起來(lái)形成強(qiáng)分類(lèi)器的算法框架。這種“三個(gè)臭皮匠頂個(gè)諸葛亮”的思路是有理論基礎(chǔ)的。
Boosting 體現(xiàn)了提升思想,每一個(gè)弱學(xué)習(xí)器重點(diǎn)關(guān)注前一個(gè)訓(xùn)練器不足的地方進(jìn)行訓(xùn)練,通過(guò)加權(quán)投票的方式,得出預(yù)測(cè)結(jié)果。Boosting學(xué)習(xí)是串行的,弱學(xué)習(xí)器的學(xué)習(xí)有先后順序。
而Adaboost是其中的一種,采用了exponential loss function(其實(shí)就是用指數(shù)的權(quán)重),根據(jù)不同的loss function還可以有其他算法,比如L2Boosting, logitboost。

2.1 Boosting

Boosting其架構(gòu)如下圖:
人臉檢測(cè):經(jīng)典的VJ人臉檢測(cè)器(類(lèi)Harr特征,積分圖加速法,級(jí)聯(lián)的Adaboost強(qiáng)分類(lèi)器)

在Boosting的迭代式訓(xùn)練時(shí),每個(gè)訓(xùn)練樣本的初始權(quán)值是相同的,訓(xùn)練中根據(jù)弱學(xué)習(xí)器的誤差計(jì)算弱學(xué)習(xí)器的權(quán)重,并調(diào)整樣本的權(quán)重來(lái)改變樣本的分布,使先前弱學(xué)習(xí)器難分的樣本在后續(xù)訓(xùn)練中得到更大的關(guān)注,循環(huán)該過(guò)程,直到弱學(xué)習(xí)器的數(shù)目達(dá)到指定數(shù)量(是一個(gè)超參)。最終將所有弱學(xué)習(xí)器進(jìn)行組合加權(quán),得到集成的強(qiáng)學(xué)習(xí)器。
弱分類(lèi)器:
一個(gè)檢測(cè)窗中包含大量的類(lèi)Harr特征,對(duì)于檢測(cè)窗x中的第j個(gè)特征值,可以訓(xùn)
練一個(gè)如下式所示的弱分類(lèi)器:
h j ( x ) = { 1 ?如果? p j f j ( x ) < p j θ j 0 ?其他? h_{j}(x)=\left\{\begin{array}{ll} 1 & \text { 如果 } p_{j} f_{j}(x)<p_{j} \theta_{j} \\ 0 & \text { 其他 } \end{array}\right. hj?(x)={10??如果?pj?fj?(x)<pj?θj??其他??
其中 f j ( x ) f_{j}(x) fj?(x)表示檢測(cè)窗第j個(gè)特征值, θ \theta θ表示閾值,p表示不等號(hào)方向,訓(xùn)弱分類(lèi)器就是在當(dāng)前特定樣本分布下,確定 f j ( x ) f_{j}(x) fj?(x)的一個(gè)閾值,使 h j ( x ) h_{j}(x) hj?(x)的分類(lèi)錯(cuò)誤率降到最低。

2.2 Adaboost(Adaptive Boosting)的算法過(guò)程

  1. 初始化訓(xùn)練樣本的權(quán)值分布 D 1 D_{1} D1?。假設(shè)有N個(gè)訓(xùn)練樣本數(shù)據(jù),則每一個(gè)訓(xùn)練樣本最開(kāi)始時(shí),都會(huì)被賦予相同的權(quán)值: W 1 = 1 / N W_{1} = 1/N W1?=1/N

  2. (a) 選取一個(gè)當(dāng)前誤差率最低的弱分類(lèi)器 h 作為第 t 個(gè)基本分類(lèi)器 H t H_{t} Ht? , 并 計(jì)算弱分類(lèi)器 h t : X → { ? 1 , 1 } h_{t}: X \rightarrow\{-1,1\} ht?:X{?1,1}, 該弱分類(lèi)器在分布 D t D_{t} Dt? 上的誤差為:
    e t = P ( H t ( x i ) ≠ y i ) = ∑ i = 1 N w t i I ( H t ( x i ) ≠ y i ) e_{t}=P\left(H_{t}\left(x_{i}\right) \neq y_{i}\right)=\sum_{i=1}^{N} w_{t i} I\left(H_{t}\left(x_{i}\right) \neq y_{i}\right) et?=P(Ht?(xi?)=yi?)=i=1N?wti?I(Ht?(xi?)=yi?)

    那么由上述式子可知, H f ( x ) H_{\mathrm{f}}(x) Hf?(x) 在訓(xùn)練數(shù)據(jù)集上的誤差率 e w e_{\mathrm{w}} ew? 就是被 H r ( x ) H_{\mathrm{r}}(x) Hr?(x) 誤分類(lèi) 樣本的權(quán)值之和。

    (b) 更新每個(gè)弱分類(lèi)器在最終分類(lèi)器中的權(quán)重 (弱分類(lèi)器權(quán)重用 α \alpha α 表示):
    α t = 1 2 ln ? ( 1 ? e t e t ) \alpha_{t}=\frac{1}{2} \ln \left(\frac{1-e_{t}}{e_{t}}\right) αt?=21?ln(et?1?et??)
    顯然,誤差越小,權(quán)重越大,這是一種指數(shù)更新弱分類(lèi)器權(quán)值的形式。
    (c) 更新訓(xùn)練樣本的權(quán)值分布 D r + 1 D_{\mathrm{r}+1} Dr+1? :
    D t + 1 ( x ) = D t ( x ) Z t × { exp ? ( ? α t ) , ?if? h t ( x ) = f ( x ) exp ? ( α t ) , ?if? h t ( x ) ≠ f ( x ) = D t ( x ) exp ? ( ? α t f ( x ) h t ( x ) ) Z t \begin{array}{l} \mathcal{D}_{t+1}(\boldsymbol{x})=\frac{\mathcal{D}_{t}(\boldsymbol{x})}{Z_{t}} \times\left\{\begin{array}{ll} \exp \left(-\alpha_{t}\right), & \text { if } h_{t}(\boldsymbol{x})=f(\boldsymbol{x}) \\ \exp \left(\alpha_{t}\right), & \text { if } h_{t}(\boldsymbol{x}) \neq f(\boldsymbol{x}) \end{array}\right.\\ =\frac{\mathcal{D}_{t}(\boldsymbol{x}) \exp \left(-\alpha_{t} f(\boldsymbol{x}) h_{t}(\boldsymbol{x})\right)}{Z_{t}} \end{array} Dt+1?(x)=Zt?Dt?(x)?×{exp(?αt?),exp(αt?),??if?ht?(x)=f(x)?if?ht?(x)=f(x)?=Zt?Dt?(x)exp(?αt?f(x)ht?(x))??
    其中 α t \alpha_{t} αt? 為弱分類(lèi)器的權(quán)重, Z t Z_{t} Zt? 為歸一化常數(shù) ,以確保D是一個(gè)分布, Z t = 2 e t ( 1 ? e t ) Z_{t}=2 \sqrt{e_{t}\left(1-e_{t}\right)} Zt?=2et?(1?et?) ?
    可以看出,訓(xùn)練樣本權(quán)值的更新仍然是使用指數(shù)函數(shù)的形式,因?yàn)橄啾?-1損失函數(shù)指數(shù)函數(shù)有更好的數(shù)學(xué)性質(zhì)。

  3. 最后, 按弱分類(lèi)器權(quán)重 α t \alpha_{t} αt? 組合各個(gè)弱分類(lèi)器, 即
    f ( x ) = ∑ i = 1 T α i H t ( x ) f(x)=\sum_{i=1}^{T} \alpha_{i} H_{t}(x) f(x)=i=1T?αi?Ht?(x)

    通過(guò)符號(hào)函數(shù) sign ? \operatorname{sign} sign 的作用, 得到一個(gè)強(qiáng)分類(lèi)器為:
    H f i n a l = sig ? n ( f ( x ) ) = sign ? ( ∑ t = 1 T α t H t ( x ) ) H_{f i n a l}=\operatorname{sig} n(f(x))=\operatorname{sign}\left(\sum_{t=1}^{T} \alpha_{t} H_{t}(x)\right) Hfinal?=sign(f(x))=sign(t=1T?αt?Ht?(x))

第二步中的訓(xùn)練樣本權(quán)重更新源頭是基于誤差率e的,所以可以推導(dǎo)出直接使用e更新訓(xùn)練樣本權(quán)值的公式:
錯(cuò)誤分類(lèi)樣本, 權(quán)值更新 : D t + 1 ( x ) = D t ( x ) 2 e t D_{t+1}(x)=\frac{D_{t}(x)}{2 e_{t}} Dt+1?(x)=2et?Dt?(x)?
正確分類(lèi)樣本, 權(quán)值更新 : D t + 1 ( x ) = D t ( x ) 2 ( 1 ? e t ) D_{t+1}(x)=\frac{D_{t}(x)}{2\left(1-e_{t}\right)} Dt+1?(x)=2(1?et?)Dt?(x)?

3. 強(qiáng)分類(lèi)器的級(jí)聯(lián)

在VJ人臉檢測(cè)器中,最終的分類(lèi)器是由若干個(gè)Adaboost強(qiáng)分類(lèi)器級(jí)聯(lián)而成。在級(jí)聯(lián)結(jié)構(gòu)中排在前面的強(qiáng)分類(lèi)器由一些最能夠代表人臉特征的少量弱分類(lèi)器組成,這樣可快速過(guò)濾掉大部分非面部區(qū)域,排在后面的強(qiáng)分類(lèi)器構(gòu)造越來(lái)越復(fù)雜,對(duì)檢測(cè)子窗口要求越來(lái)越嚴(yán)格,用來(lái)判斷較難辯識(shí)的區(qū)域。

VJ人臉檢測(cè)器中強(qiáng)分類(lèi)器組成的聯(lián)結(jié)構(gòu)示意圖:
人臉檢測(cè):經(jīng)典的VJ人臉檢測(cè)器(類(lèi)Harr特征,積分圖加速法,級(jí)聯(lián)的Adaboost強(qiáng)分類(lèi)器)

現(xiàn)在看VJ的性能是很差的,但該工作是里程碑式的,這里記錄一下。文章來(lái)源地址http://www.zghlxwxcb.cn/news/detail-464154.html

到了這里,關(guān)于人臉檢測(cè):經(jīng)典的VJ人臉檢測(cè)器(類(lèi)Harr特征,積分圖加速法,級(jí)聯(lián)的Adaboost強(qiáng)分類(lèi)器)的文章就介紹完了。如果您還想了解更多內(nèi)容,請(qǐng)?jiān)谟疑辖撬阉鱐OY模板網(wǎng)以前的文章或繼續(xù)瀏覽下面的相關(guān)文章,希望大家以后多多支持TOY模板網(wǎng)!

本文來(lái)自互聯(lián)網(wǎng)用戶(hù)投稿,該文觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表本站立場(chǎng)。本站僅提供信息存儲(chǔ)空間服務(wù),不擁有所有權(quán),不承擔(dān)相關(guān)法律責(zé)任。如若轉(zhuǎn)載,請(qǐng)注明出處: 如若內(nèi)容造成侵權(quán)/違法違規(guī)/事實(shí)不符,請(qǐng)點(diǎn)擊違法舉報(bào)進(jìn)行投訴反饋,一經(jīng)查實(shí),立即刪除!

領(lǐng)支付寶紅包贊助服務(wù)器費(fèi)用

相關(guān)文章

  • Verilog設(shè)計(jì)“111”檢測(cè)器與“01110”檢測(cè)器并測(cè)試所有情況

    Verilog設(shè)計(jì)“111”檢測(cè)器與“01110”檢測(cè)器并測(cè)試所有情況

    使用Quartus+modelsim完成本次設(shè)計(jì) 分析 分析題目,得到其有限狀態(tài)機(jī)為下圖: 代碼實(shí)現(xiàn) Testbench 結(jié)果 Modelsim結(jié)果如下圖所示,分析可知實(shí)現(xiàn)了題目要求。 邏輯綜合出來(lái)的電路如下圖所示:即只有S3狀態(tài)才會(huì)輸出OUT=1。 其中的state的狀態(tài)機(jī)如下圖所示(RLT viewer中所示),可見(jiàn)其與

    2024年02月08日
    瀏覽(23)
  • 1001序列檢測(cè)器

    1001序列檢測(cè)器

    multisim仿真文件:1001序列檢測(cè)器(mealy機(jī))-單片機(jī)文檔類(lèi)資源-CSDN下載 modelsim仿真文件:1001序列檢測(cè)器modelsim仿真和測(cè)試文件-單片機(jī)文檔類(lèi)資源-CSDN下載 實(shí)驗(yàn)報(bào)告:1001序列檢測(cè)器實(shí)驗(yàn)報(bào)告-單片機(jī)文檔類(lèi)資源-CSDN下載 電 子 科 技 大 學(xué) 課程設(shè)計(jì)名稱(chēng): ??????????1001 序列檢

    2024年02月06日
    瀏覽(27)
  • 簡(jiǎn)易溫度檢測(cè)器電路原理

    簡(jiǎn)易溫度檢測(cè)器電路原理

    在日常生活中,對(duì)溫度的及時(shí)檢測(cè)能夠減免火災(zāi)的發(fā)生,所以今天就說(shuō)說(shuō)溫度檢測(cè)器。 實(shí)際功能 在常溫下顯示數(shù)字0,隨著溫度的升高,數(shù)碼管逐步顯示1、3、8,分別代表三檔溫度,并且在顯示8的時(shí)候,LED燈開(kāi)始閃爍,代表溫度過(guò)高而報(bào)警,當(dāng)溫度下降時(shí),數(shù)碼管的顯示狀態(tài)

    2024年02月09日
    瀏覽(21)
  • ChatGPT檢測(cè)器(Detector)

    現(xiàn)階段可使用的Detector如以下所示,在網(wǎng)頁(yè)端有5個(gè)(3個(gè)支持中文),api有3個(gè)途徑,代碼運(yùn)行成功的有一個(gè)。 名稱(chēng) 地址 特性 GPTZero https://gptzero.me/ 支持中英文,判定較為嚴(yán)格,有開(kāi)源代碼 OpenAI GPT2 Output Detector https://openai-openai-detector.hf.space/ 支持中英文,判定寬松 Hello-Simple

    2023年04月27日
    瀏覽(26)
  • OpenCV分類(lèi)檢測(cè)器訓(xùn)練

    OpenCV中有兩個(gè)程序可以訓(xùn)練級(jí)聯(lián)分類(lèi)器: opencv_haartraining 和opencv_traincascade。opencv_traincascade 是一個(gè)新程序,使用OpenCV 2.x API 以C++ 編寫(xiě)。這二者主要的區(qū)別是 opencv_traincascade 支持 Haar、Hog和 LBP(Local Binary Patterns) 三種特征,并易于增加其他的特征。與Haar特征相比,LBP特征是整數(shù)

    2024年02月17日
    瀏覽(26)
  • 序列檢測(cè)器的verilog實(shí)現(xiàn)

    序列檢測(cè)器的verilog實(shí)現(xiàn)

    設(shè)計(jì)一個(gè)序列檢測(cè)同步時(shí)序邏輯電路,要實(shí)現(xiàn)的功能如下: 當(dāng)已有輸入碼流出現(xiàn)序列 111000或101110時(shí)輸出檢測(cè)信號(hào)為1 ,否則輸出為0。在時(shí)序上檢測(cè)到完整序列的 下一個(gè)時(shí)鐘周期 輸出檢測(cè)結(jié)果。輸入信號(hào)有效為1時(shí)表示當(dāng)前輸入有效,否則表示無(wú)效。之前輸入依舊計(jì)入序列中

    2024年02月06日
    瀏覽(26)
  • OpenCV 如何實(shí)現(xiàn)邊緣檢測(cè)器

    OpenCV 如何實(shí)現(xiàn)邊緣檢測(cè)器

    返回:OpenCV系列文章目錄(持續(xù)更新中......) 上一篇:OpenCV如何實(shí)現(xiàn)拉普拉斯算子的離散模擬 下一篇?:OpenCV系列文章目錄(持續(xù)更新中......) 在本教程中,您將學(xué)習(xí)如何: 使用 OpenCV 函數(shù)?cv::Canny?實(shí)現(xiàn) Canny 邊緣檢測(cè)器。 Canny Edge探測(cè)器 [48]由John F. Canny于1986年開(kāi)發(fā)。Canny 算法

    2024年04月25日
    瀏覽(24)
  • 實(shí)驗(yàn) 5 巴克碼檢測(cè)器

    實(shí)驗(yàn) 5 巴克碼檢測(cè)器

    5.1 實(shí) 驗(yàn) 目 的 (1) 了解通信領(lǐng)域中經(jīng)常使用的巴克碼檢測(cè)器的設(shè)計(jì)方法。 (2) 掌握使用狀態(tài)機(jī)設(shè)計(jì)時(shí)序電路的方法。 5.2 實(shí) 驗(yàn) 儀 器 與 器 材 (1) EDA 開(kāi)發(fā)軟件 一 套 (2) 微 機(jī) 一 臺(tái) (3) 實(shí)驗(yàn)開(kāi)發(fā)系統(tǒng) 一 臺(tái) (4) 打印機(jī) 一 臺(tái) (5) 其他器件與材料 若 干 5.3 實(shí) 驗(yàn) 說(shuō) 明 巴 克 碼 檢 測(cè)

    2024年02月01日
    瀏覽(23)
  • 簡(jiǎn)單的狀態(tài)機(jī)設(shè)計(jì)——序列檢測(cè)器

    簡(jiǎn)單的狀態(tài)機(jī)設(shè)計(jì)——序列檢測(cè)器

    1.序列檢測(cè)器 序列檢測(cè)器是時(shí)序數(shù)字電路中非常常見(jiàn)的設(shè)計(jì)之一。它的邏輯功能是將一個(gè)指定的序列從數(shù)字碼流中識(shí)別出來(lái)。 2.例1:\\\"10010\\\"序列檢測(cè)器 對(duì)串行輸入的數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè),檢測(cè)“10010”。設(shè)X為數(shù)字碼流輸入,Z為檢出標(biāo)記輸出,高電平表示“發(fā)現(xiàn)指定序列”,低電平表

    2024年02月11日
    瀏覽(26)
  • 【目標(biāo)檢測(cè)】Grounding DINO:開(kāi)集目標(biāo)檢測(cè)器(CVPR2023)

    【目標(biāo)檢測(cè)】Grounding DINO:開(kāi)集目標(biāo)檢測(cè)器(CVPR2023)

    文章來(lái)自清華大學(xué)和IDEA(International Digital Economy Academy) 論文: 《Grounding DINO: Marrying DINO with Grounded Pre-Training for Open-Set Object Detection》 github: https://github.com/IDEA-Research/GroundingDINO Grounding DINO,一種開(kāi)集目標(biāo)檢測(cè)方案, 將基于Transformer的檢測(cè)器DINO與真值預(yù)訓(xùn)練相結(jié)合 。開(kāi)集檢

    2024年02月12日
    瀏覽(16)

覺(jué)得文章有用就打賞一下文章作者

支付寶掃一掃打賞

博客贊助

微信掃一掃打賞

請(qǐng)作者喝杯咖啡吧~博客贊助

支付寶掃一掃領(lǐng)取紅包,優(yōu)惠每天領(lǐng)

二維碼1

領(lǐng)取紅包

二維碼2

領(lǐng)紅包